剥离破坏
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debonding failures
舒解失败
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Through comparisons with the test results of 45 beams, this method is shown to provide accurate predictions of IC debonding failures.
分析结果表明，本文提出的计算模型与试验结果吻合良好，可以真实模拟受弯剥离破坏过程。
youdao
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