...合的，还可以采用不同的IC技术，在这种复杂的器件面前， 传统的自动测试图形生成器（ATPG，Automatic Test-Pattern Generators）技术已经不能 满足需要了。人们正在努力开发新的测试技术，如采用可测性设计技术、进行分块测试 等等。
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automatic test-pattern generators
自动测试模式生成器
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