...移速率（使用标准样品杆）：≤ 0.5nm/min 2.9 扫描透射(STEM) 2.9.1分辨率：≤ 0.19 nm 2.9.2探头：高角环形暗场探头（HAADF） 2.9.3 TEM与STEM模式相互切换后所需热稳定时间小于30秒 2.9.4 STEM放大倍数范围150x - 230Mx 2.10 X射线能谱仪(EDS) ，技术规格...
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3.2 探头：高角环形暗场探头（HADDF）或明场像（暗场像）探头
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高角环形暗场探头
High Angle ring dark field probe
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