由X-射线光电子能谱（XPS），静态二次离子质谱分析（SSIMS）和程序升温脱附（TPD）PdxCo1-x薄膜层具有不同的化学计量，通过DC磁控溅射在α-Al2O3（蓝宝石）衬底上制备的，进行了调查...
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静态二次离子质谱分析
Static secondary ion mass spectrometry analysis
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实验结果表明，此系统既可用于高灵敏度的静态二次离子质谱分析，也可用于二次离子能谱的研究。
The experimental results show that the system can be used to carry out high sensitivity SIMS work as well as secondary ion energy spectrum studies.
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