random access scan
本文主要研究如何抑制电路的动态功耗,鉴于随机扫描结构(Random Access Scan,RAS)在降低动态测试功耗中的突出表现,本文着重研究了基于RAS结构的测试方法。
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鉴于随机扫描结构 Random Access Scan
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