在实际测量工作中,采用原子力显微术(Atomic Force Microscope,AFM)获取物质三维外表形貌白勺测量技术因纵向分辨率高而在纳米级外表测量领域得到较多 应用,但是却有探头易损...
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采用原子力显微镜术 Atomic Force Microscopy ; AFM
采用原子力显微术
Atomic force microscopy was adopted
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