而扫描、AC扫描、逻辑内建自测试(LBIST)和记忆体BIST这类结构测试方法，已经为理解设计规格、识别生产和设计中的缺陷、描绘和监控产品生产过程以及加速产品上市提供了一...
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实速测试的实现方式有多种，常见的有功能测试、逻辑内建自测试（Logic BIST ）和扫描测试。
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...据库 用于提高芯片可测试性的可测性设计(dcsign for testability,DFT)方法被提出,其中逻辑内建自测试(logic built in self test, LBIST)方法已经被证明为大规模集成电路(VLSI)和SOC测试的一项有效的可测试性设计方法。
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