...测性设计(Design For Test,DFT)的故障覆盖率,减少测试时间,通过分析自我测试(Self-Testing Using MISR and Parallel SRSG,STUMPS)方法中的测试机制,找出了其测试效果不理想的原因,提出了改进型的大规模集成电路的测试方法,用C语言编写..
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通过分析自我测试
Conduct self-tests through analysis
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