BIST通常由测试向量生成器（TestPatternGenerator，TPG）、被测电路（Circuit Undel＂Test，CUT）、输出响应分析器（OutputRespon...
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BIST通常由测试向量生成器(test pattern generator,TPG),BIST控制逻辑(BISTcontrol logic,BCL)和测试响应评价器3部分组成.
通常由测试向量生成器
It is usually generated by a test vector generator
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