原子力显微镜的高分辨能力远远超过扫描电子显微镜（Scanning Electronic Microscope，SEM），具有非破坏性，其应用范围也特别广泛，可用于表面观察、尺 寸测定、表面粗糙测定、颗粒度解析、突起与凹...
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通过扫描电子显微镜法 Scanning Electron Microscope
过扫描电子显微镜
Through a scanning electron microscope
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