...摘要：65nm及以下工艺,负偏置温度不稳定性（NBTI）是限制电路生命周期,导致电路老化甚至失效的最主要因素。本文提出了基于NBTI的时序分析框架,在确定电路中老化敏感的潜在关键路径...
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negative bias temperature instability
负偏置温度不稳定性（NBTI，Negative Bias Temperature Instability）是P沟道晶体管的逐步退化现象。其重要影响在于对阈值电压的变化， 尤其是氮化硅逐步取代二氧化硅成为栅介...
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