试产生及诊断软体brains （Bist for Ram In Seconds），优化3-D IC中的记忆体自我测试电路（BIST，Built In-Self Test）。
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自我测试电路
Self-test circuit
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“电路分析自动命题系统”由交互测试模块、自动命题模块以及试题库管理模块组成，能够实现交互自我测试、试卷的自动生成以及题库的维护功能。
The automatic examination paper generating System for Circuit Theory consists of self-test module, automatic examination paper generating module and test question management module.
youdao
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