automatic test pattern generation
...试产生器 Automatic Test Pattern Generation 自动化测试模式生成 automatic test pattern generation (ATPG) 自动测试模式产生 ..
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...或读取其内容。测试是IC制造的一个用以识别和清除有缺陷或低于标准的组件的重要部分。测试存储器阵列尤其容易出现问题。自动测试模式产生(ATPG)方法包括将激励模式扫描到一组扫描链寄存器或锁存器中，施加所述模式以激发随机逻辑，将结果俘获在另一组扫描链寄存器或锁存器中...
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