automated test pattern generation
该硅芯片测试流程的基础是TestKompress自动化测试向量产生(automated test pattern generation，ATPG)解决方案，可以最低测试成本达成更高测试质量。
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该硅芯片测试流程的基础是TestKompress自动化测试向量产生(automated test pattern generation，ATPG)解决方案，可以最低测试成本达成更高测试质量。
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