...陷的汽车元件设计生产 ysis, SYA）分为统计性良品率限制（Statistical Yield Limit, SYL）和统计箱限制（Statistical Bin Limit, SBL）两种。
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...车元件设计生产 ysis, SYA）分为统计性良品率限制（Statistical Yield Limit, SYL）和统计箱限制（Statistical Bin Limit, SBL）两种。
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短语
和统计箱限制
Statistical Bin Limit