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硅氧化物生长
Silicon oxide growth
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结果发现，多晶硅面注F具有较强的抑制辐射感生阈电压漂移，控制氧化物电荷和界面态生长的能力。
For suppressing the radiation-induced threshold shifts, controlling oxide charges and interface states, fluorine introduction after polysilicon doposition is a better implantation technology.
youdao
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