GPS基带芯片的可测性设计研究-无线电电子学论文-论文中国 时,系统芯片的复杂性也给可测性设计以及测试矢量生成带来了挑战。本论文的主要工作及成果是：(1)GPS基带芯片中嵌入的存储器采用存储器内建自测试(Memory Built-in-Self-Test, MBIST)技术进行可测性设计,并利用一种改进型算法对存储器内建自测试电路的控制逻辑进行设计。BIST电路实现了
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用存储器内建自测试
Self-test with the built-in memory
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