目前最有效的方 法就是采用可测性设计技术（DFT ，Design For Testability），即在设计时就保证电路的可 测性【2】。 对数字逻辑电路的测试包括功能测试和结构测试。
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目前最有效的方法就是采用可测性设计技术(DFT,De-signForTestability),即在设计时就保证电路的可测性。对数字逻辑电路的测试包括功能测试和结构测试。
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用可测性设计技术
Use testability design techniques
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