解决测试问题的一个好办法是使用可测性设计(Design for Testability, DFT),即在对IC进行设计的同时就考虑对它的测试问题,使得IC生产出来以后比较容易地被测试。
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解决测试问题的一个好办法是使用可测性设计(Design for Testability, DFT),即在对IC进行设计的同时就考虑对它的测试问题,使得IC生产出来以后比较容易地被测试。
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短语
用可测性设计技术
Design for Testability
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DFT