...藏 获取最新 器件工艺可靠性测试数据比较方法的研究 王擎雷 周柯 杨斯元 【摘要】： 热载流子注入(hot carrier injection,HCI)效应和负偏压温度不稳定性(negative biastemperature instability,...
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中国科学技术大学物理系微电子专业 2013-9-8 Theory of Semiconductor Devices 16 热载流子注入（Injection of Hot Carrier） • 热载流子退化 在短沟道下，如果电压较大，横向（沟道方向） 和纵向（垂直沟道方向）的电场强度会大大增强。
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