...激发瞬时电容（transient capacitance，TACAP）和深层瞬时电流光谱分析（deep level transient capacitancespectroscopy，DLTS）方法被发明‰”，并从七十年代中期开始用于 电子轰击硅的研究脯“．实验研究中产生的点缺陷不能提供诸如形..
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...代初热激发瞬时电容（transient capacitance，TACAP）和深层瞬时电流光谱分析（deep level transient capacitancespectroscopy，DLTS）方法被发明‰”，并从七十年代中期开始用于 电子轰击硅的研究脯“．实验研究中产生的点缺陷不能提供诸如形..
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