中国计算机自动测量与控制技术协会——《计算机测量与控制》杂志社 关键词：边界扫描测试；MTM总线；TAP口；测试向量生成； [gap=883]Key words: boundary scan test; MTM-Bus; TAP port ; test vector generation
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自动测试向量生成 ATPG ; Automation test pattern Generation
直接测试向量生成 Directed Test Vector Generation
测试向量生成器 Test Pattern Generator ; TPG
随机测试向量生成器 RTPG
通常由测试向量生成器 TestPatternGenerator ; TPG
测试向量自动生成 ATPG ; automatic test pattern generation
测试向量自动生成工具 FastScan ATPG A p SW
自动测试图形向量生成 ATPG
自动向量测试生成 ATPG ; Automatic Test Pattern Generation
本文还提出了一种面向最小相关度多捕获结构的测试向量生成算法。
A new test vector generation method for Multi-capture structure is presented to generate more efficient vectors.
结合一个实际电路，研究了一种可把数字电路故障定位到器件级的测试向量生成算法。
This paper studies a test vector generation algorithm for digital circuits which can locate the component faults.
兼容于BSDL和EDIF文件格式的自动测试向量生成软件可实现多种扫描测试功能。
The automatic testing software which is compatible with BSDL files and EDIF files can complete multiple boundary scan test tasks.
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