使用BIST 技术需要在被测电路内部设有测试向量产生器（Test Patten Generator, TPG）。 两种典型的TPG 分别是基于线性反馈移位寄存器（Linear Feedback Shift Re...
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使用BIST 技术需要在被测电路内部设有测试向量产生器（Test Patten Generator, TPG）。
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测试用向量产生器 test vector generator
测试向量产生器
Test vector generator
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为了减少测试向量的存储需求，提出一种基于扭环计数器作为测试向量产生器的横向和竖向测试数据压缩的BIST方案。
In order to reduce the storage requirements for the test patterns, a vertical and horizontal test data compression BIST scheme based on the test pattern generation of twisted-ring counter is proposed.
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