改进的大规模集成电路测试方法 -文本浏览模式- 文档 - 枢研网 关键词:可测性设计;内建自测试;每时钟测试;测试向量压缩 [gap=770]Key words:DFT;Built-in Self Test;test-per-clock;test pattern compression
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每时钟测试
Test per clock
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