...机械和气候试验方法 第27部分： 英文名称： IEC 60749-29, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test 页数： 8 采用标准： IEC 47/1713/FDIS (2003-07), EQV 被替代标准： ..
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机械和气候试验方法
Mechanical and climatic test methods
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