为 此，人们提出了瞬态电流测试（IDDT Testing）方法[2]，它能发现一些其他测试方法所不能发 现的故障，从而可以进一步提高测试的故障覆盖率，满足人们对高性能集成电路的需要[3...
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提出了瞬态电流测试
The transient current test was proposed
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本文针对瞬态电流测试提出了一种测试产生算法。
This paper proposes a new algorithm for transient current test (IDDT) generation.
youdao
针对瞬态电流测试提出了一种测试产生算法。
This paper proposed a new algorithm for transient current test(IDDT) generation.
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