...方法一般是基于STUMPS结 [1]包括扫描设计在内的传统的依赖于ATE的测试方法需构除已经完成扫描设计的待测电路(circuit under test, CUT)要产生大量的测试数据而提高了测试成本面临着很多问题以外还主要包括以下几个功能模块测试向量生成模块[2...
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扫描设计的待测电路
Scan the designed circuit to be tested
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