...式分析之前，为了故障模式分析的进行，会利用光学检验(optical examin ation)或扫描式电子显微镜(Scanning Electron Microscope，SEM)等方式，先将此集成电路结构中的低介电常数材料移除，并暴露出导体层。
基于1个网页-相关网页
或扫描式电子显微镜
Or scanning electron microscope
以上为机器翻译结果，长、整句建议使用 人工翻译 。
应用推荐
模块上移
模块下移
不移动