...了铜膜中氦的微结构,实验结果表明随着铜膜中氦含量的逐渐增加,对应Cu(111)晶面的峰强也有所增强；最后应用了慢正电子束分析(SPBA)技术测量了不同含氦铜膜的缺陷结构,随着铜膜中氦的增加,S参数会发生相应的变化.
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慢正电子束分析
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Slow positron beam analysis
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