...CEMS采用光散射、锥形微量振荡天平(TEOM)双测量原理,可以辨别质量浓度变化还是颗粒物其它特性变化。锥形微量振荡天平(TEOM)是质量传感器,对连续测量的光散射设备进行内部参比校正。
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微量振荡天平法 TEOM
锥形元件振荡微量天平 TEOMTM
微量振荡天平
Micro-oscillating balance
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