...了一个可编程微控制单元，取代了以往用于快闪记忆体的传统状态机（state machine），并且支援内建自测(BIST，built-in seft test)。
基于4个网页-相关网页
案还整合了一个可编程微控制单元，取代了以往用于快闪记忆体的传统状态机（state machine），并且支援内建自测(BIST，built-in seft test)。
基于2个网页-相关网页
并且支援内建自测
It also supports built-in self-testing
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