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和导电原子力显微镜 conductive atomic force microscopy
用X射线和原子力显微镜对其进行了表征。
The samples were characterized by the X-ray and Atom Force Microscope.
利用LB技术和原子力显微镜(afm)研究表面活性剂混合不溶膜的结构。
Mixed monolayers of surfactants were investigated by AFM and LB technique.
介绍了扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(afm)的原理和目前情况。
This paper briefs the principle and some advance of scanning tunneling microscope (STM) and atomic force microscope (AFM).
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