SoC测试的发展趋势及挑战 何能有效进行SoC芯片的测试工作,是学术界、产业界与各个研究单位都在努力解决的问题。目前有一种方法,叫做内置自检（BIST, Build-In Self Test）。运用这种测试方法时,在芯片的设计阶段,就必须把自检测试的原理考虑进去,在制造芯片的电路中也必须要加
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目前有一种方法,叫做内置自检（BIST, Build-In Self Test）。
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叫做内置自检
It is called built-in self-check
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