这种方法通常是加上反射高能索立 机械电子衍射(RHEED)和反射高能量损失谱(RHELS)。另一个变化是自旋极化低 能索立机械电子显微镜(SPLEEM)，这是在微观领域寻找磁使用。
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反射高能量损失谱
Reflects a high energy loss spectrum
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