65in-电子工程专辑 TRx嵌入式记忆体测试与修复系统，整合了内建自我测试(Best-in-Self-Test，BIST)及内建自我修复(Best-in-Self-Repair，BISR) IP，使Advantage与Metro系列记忆体在迈入45奈米、65奈米及90奈米制程时，能提高整
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及内建自我修复
And built-in self-repair
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