用XRD,AFM测定了PZT薄膜的相组分与表面结构,并利用压电响应力显微镜(piezoresponse force microscopy,PFM)观察了初始晶化和高度晶化样品自发极化形成的铁电畴.
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PZT薄膜晶化过程的相变及铁电畴监测-中国学术期刊网络出版总库 同保温时间快速退火处理使其转化为多晶PZT薄膜。用XRD,AFM测定了PZT薄膜的相组分与表面结构,并利用压电响应力显微镜(piezoresponse force microsco-py,PFM)观察了初始晶化和高度晶化样品自发极化形成的铁电畴。结果表明:PZT薄膜晶化发生在550℃,PFM可观
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