近几年来,随着实验手段的提高,如热原子散射技术(TEAS)、低能电子显微术(LEEM),特别是扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)等用于观察薄膜的生长形貌,使得直接观察超薄膜平衡和非平衡生长过程成为可能,人们...
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low energy electron microscopy
2.2 低能电子显微术(Low Energy Electron Microscopy,LEEM) 低能电子显微术和反射式电子显微术不同处是在低能电子显微术是利用低能量电 子垂直入射样品表面。
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