因此所有IC都必须透过测试来检验是否能使组件免于受到ESD的损害，这些测试标准包括人体放电静电模式(Human Body Model，HBM)、机器放电模式(Machine Model，MM)，以及与IC封装大小关系密切的组件充电模式(Cha...
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因此所有IC都必须透过测试来检验是否能使组件免于受到ESD的损害，这些测试标准包括人体放电静电模式(Human Body Model，HBM)、机器放电模式(Machine Model，MM)，以及与IC封装大小关系密切的组件充电模式(Cha...
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