扫描探针显微镜(scanning probe microscopy)
...都可以归为两类：自上而下和自下而上的思路。由于不同制备方法得到的二维材料也许会具有不同的结构特征，比如不同的物理、电子、化学和表面特性等，因此对材料进行深入地表征是至关重要的。得到具有精确尺寸、成分、厚度、晶相、掺杂情况、缺陷、空位、应变、电子状态和表面状态对于理解制备出的二维纳米材料中结构特征和性质间的关系十分重要。因此，对这些材料使用了一系列先进的技术进行了表征，例如光学显微镜、扫描探针显微镜（SPM）、电子显微镜、X射线吸收精细结构光谱（XAFS）、X射线光电子能谱（XPS）和拉曼光谱等。
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扫描探针显微镜(scanning probe microscopy)
scanning probe microscopy
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