...，为了快速评估其贮存寿命与可靠性指标，提出了使用步进应力加速退化试验（SSADT，Step Stress Accelerated Degradation Testig）的试验方法．首先给出SSADT的基本假设．基于该产品的故障模式影响及危害性分析和故障树分析结果，为该...
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...期内具有长寿命、高可靠性特点的系统级微波电子产品,为了快速评估其贮存寿命与可靠性指标,提出了使用步进应力加速退化试验(SSADT,STEP STRESS ACCELERATED DEGRADATION TESTIG)的试验方法.首先给出SSADT的基本假设.
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步进应力加速退化试验 Step Stress Accelerated Degradation Testig
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