...-SiTFT制备过程中的一些关键工艺步骤；并结合工作实际，利用半导体研究、制造企业常用的光发射显微镜(EMMI,Emission Microscopy)、扫描电子显微镜(SEM，ScanningElectronMicroscopy)和反应离子刻蚀(RI...
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electron emission microscopy 电子发射显微镜检查法
Emission Microscopy Infrared 红外发射显微
Field Emission Microscopy 场发射显微镜 ; 发射显微术 ; 场致发射显微镜
field emission microscopy fem 场发射显微镜
field electron emission microscopy 场电子发射显微术
Scanning anode field emission microscopy 扫描阳极场致发射显微镜
FEM Field Emission Microscopy 场致发射显微镜
photo-emission electron microscopy 发射电子显微镜 ; 光发射电子显微镜检查 ; 光电发射电子显微镜检查
Field emission scanning electron microscopy 扫描电子显微分析 ; 场发射扫描电子显微镜 ; 式电子显微镜 ; 电子显微镜
Based on the above study, failure analysis is performed using PEM (Photon Emission Microscopy) and SEM (Scanning Electron Microscope). Results showed most of failure chips damaged by thermal runaway in the dicing zone.
在以上的基础上,利用发光显微镜和扫描电子显微镜对失效的瞬变电压抑制器进行了失效解剖分析,发现失效晶粒大多为热点击穿损坏,并且常发生在钝化层的切割损伤层,于是对划片切割方式进行试验,发现刀片择向和方式影响了成品的可靠性,对不同择向和方式划片进行对比后发现沿着解理面划片效果好,为了进一步改善划片质量,提出了背切+裂片这一新的划片方式。
参考来源 - TVS器件钝化技术与可靠性研究·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
With the present lasers, X-ray microscopy can be made using narrow band emission or black body radiation from laser plasmas.
就目前的泵浦激光条件，采用窄带辐射和黑体辐射可进行水窗波段X光显微成像的实验研究。
The phase composition and microstructure of mullite powders were investigated by X-ray diffraction and field emission scanning election microscopy techniques.
利用X射线衍射仪和场致发射扫描电子显微镜等手段对合成粉体的相组成、结构和形貌进行了研究。
The samples were characterized by field-emission scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectroscopy(EDS) and photoluminescence (PL).
通过扫描电子显微镜（SEM）、能谱分析仪（EDS）和光致发光（PL）测试对样品进行了表征。
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