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ellipsometry
[ɪlɪpˈsɒmɪtri] [ɪlepˈsɑːmətrɪ]

  • n. 椭圆对称;椭圆光度法,[光] 椭圆测量术

网络释义专业释义英英释义

  椭圆偏振技术

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  椭圆光度法

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  椭圆测量术

... ellipsometry椭圆测量术 ellipticalaperture椭圆孔径 ellipticalcone椭圆椎体 ...

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  椭圆偏振术

【正文快照】: 椭圆偏振术 (Ellipsometry)是通过测量椭圆偏振光在两相界面或固体表面膜上反射所产生的偏振态的改变 ,以检测界面或表面膜有关性质和结构的方法 .

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短语

depolarizer ellipsometry 消偏振镜椭圆率测量术

Ir modulated ellipsometry 红外调制椭圆测量术 ; 红外激跟踪测距仪

heterodyning ellipsometry 外差椭圆偏振测量术 ; 外差法

spectroscopic ellipsometry 椭圆偏振光谱法 ; 法

ellipsometry method 椭圆计法 ; [电子] 椭偏仪法 ; 椭圆偏振法

Spectroscopy Ellipsometry 椭圆偏振法

imaging ellipsometry 椭偏成像

transient optical ellipsometry 磁光调制

 更多收起网络短语
  • 椭偏测量术 - 引用次数:6

    The DOAP can be used as a polarization state detector in real-time polarimetry, ellipsometry and Mueller matrix ellipsometry.

    分振幅振光计可用作实时测量术椭偏测量术和米勒矩阵椭偏测量术中的振态探测器。

    参考来源 - 基于振幅分割的光偏振测量技术的研究
    椭偏测量法 - 引用次数:2

    参考来源 - 提高椭偏测量中薄膜参数精度的研究
    椭圆测量术
  • 椭圆偏振 - 引用次数:4

    From the measured result of spectroscopic ellipsometry, we know that the refractive index (n) and the extinction coefficient (k) are reduced with the rise of the substrate temperature and the increase of wavelength.

    通过对样品的椭圆偏振光谱测试分析可知,随着衬底温度的升高,样品的折射率和消光系数均随波长增长呈递减趋势,且在波长为500nm后递减的幅度变小。

    参考来源 - 脉冲激光沉积法制备ZnO薄膜及其光学性质的研究
  • 椭圆光度法
    椭圆对称
  • 椭圆对称

·2,447,543篇论文数据,部分数据来源于NoteExpress

Ellipsometry

  • abstract: Ellipsometry is an optical technique for investigating the dielectric properties (complex refractive index or dielectric function) of thin films. Ellipsometry can be used to characterize composition, roughness, thickness (depth), crystalline nature, doping concentration, electrical conductivity and other material properties.

以上来源于: WordNet

双语例句

  • The measuring condition for principle Angle in spectroscopic ellipsometry is analyzed.

    椭圆偏振光谱中的主角测量条件进行了分析。

    youdao

  • Accurate measurement of its retardation by ellipsometry prove the rationality of its structure design.

    偏术相延测量实验结果,验证了这种波片结构设计的合理性

    youdao

  • The structure of the laser crystallized poly-Si thin film is analyzed by using spectroscopic ellipsometry.

    采用椭偏光谱法分析了薄膜结构提出多层膜模型模拟薄膜结构。

    youdao

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