ebic electron beam induced current
电子束感应电流
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The recombination activity of grain boundaries (GBs) in casting multicrystalline silicon (mc-Si) was investigated through an electron beam induced current (EBIC) technique.
本文利用电子束诱生电流（EBIC）对铸造多晶硅中晶界的复合特性进行了研究。
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