...档桉格式在此标准下定义设备色彩描述档 ( Device Profile ) 的整合，以交换各媒体装置的色彩特性描述 ( Device Characterization )，因此使用ICC Profile（色彩描述档），作为不同设备之间色彩转换的依据、标准，使得色彩能一致地表现在不同的设备上。
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WDM device characterization 波分复用器件特性
Device Reset Characterization 设备重置描述
characterization of MOS device MOS器件表征
Finally, a miniature test structure for RF device characterization and process monitoring is also proposed.
最后，一通用于射频元件特性分析与制程监测的微型化测试结构亦被提出。
For example, in optical spectroscopy, a correct intensity measurement of the probe beam is fundamental during material and device characterization.
例如，在光谱学中，探测器光柱的正确亮度测量是材料和设备描述的基础。
We briefly summarize the applications of PEEM to areas such as surface structure analysis, surface chemistry, magnetism, and semiconductor device characterization.
简要总结光电子显微术在表面结构分析，表面化学，磁学，以及半导体器件表征等方面的应用。
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