本研究中利用了双晶X 射线衍射 和三轴X射线 衍射两种技术： 双晶X 射线衍射 （ DCXRD ）是将一个参考晶体的衍射X射线束作为另一个待 测晶体样品的入射X射线束，就可准确地测量到待测晶体样品的衍射峰的相对强 度、峰...
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方法具有无损伤、精度高、制样简单等特点，所以X射线双晶衍射仪（DCXRD）常用于分析半导体晶体质量。当X射线照射晶体时，晶体中各原子在满足布拉格方程的方向上发生相干散射波叠加，即形成了衍射波。
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采用透射谱的方法确定AlGaN外延层的带隙,采用X光双晶衍射(DCXRD)的ω扫描摇摆曲线表征AlGaN外延层晶体质量,采用扫描电子显微镜表征..
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... 显微傅利叶红外 FTIR 双晶X衍射分析仪 DCXRD 温度冲击 Thermal Shock ...
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