晶圆测试(Circuit Probing,CP) 晶圆片由晶圆制造厂产出后随即进入测试厂中进行晶圆测试,其流程如 图二(a)所示.
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in-circuit probing 内电路探测
ICP In-Circuit Probing 电路内探测
ICP In Circuit Probing 内电路探测
circuit probing
电路探测
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