... on wafer chip test 薄片内芯片检测 Chip Test Input 芯片测试输入 Chip test failed management of 芯片检验不合格的管理 ...
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chip test input
芯片测试输入
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The paper proposed a new Selected Variable-length Input Coding (SVIC) for System on Chip (SOC) test data compression.
本文针对SOC测试数据压缩,提出了一种新的可挑选变长输入编码(SVIC)方案。
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