built-in self-testing bist
内置自测程序
以上为机器翻译结果，长、整句建议使用 人工翻译 。
Aiming at the mixed-signal circuit testing, an integrated built-in self test (BIST) architecture for testing on-chip high speed ADC was presented.
针对混合信号电路的测试问题，提出了一种内建自测试(BIST)结构，分析并给出了如何利用该结构来计算片上高速模数转换器(adc)的静态参数。
youdao
应用推荐
模块上移
模块下移
不移动