... 嵌入式多端口SRAM,端口间故障,故障覆盖率,时间复杂度,内建自测试(BIST),内建自诊断(BISD),多端口SRAM的测试与诊断技术探讨
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本文介绍了一种新的内置的自我诊断（BISD）计划，IC级扫描为基础的电路设计和实施。所提出的方案是能够识别的所有触发器捕获错误的电路在测试过程中，在一个电路中的错误的...
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