... 设计规则检查(Design Rule Check，DRC) 综合扫描电路(Scan Synthesis) 布局与布线(Auto Placement&Route，AP&R) ...
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综合扫描电路
Integrated scanning circuit
以上为机器翻译结果，长、整句建议使用 人工翻译 。
提出了一种在内建自测试(BIST)中进行部分扫描的算法，此算法综合了电路的结构分析和可测性分析。
A partial scan algorithm for BIST, which combines the structure analysis and testability analysis, is presented in this paper.
youdao
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